در راستای ارتقای خدمات آنالیز و پاسخ‌گویی به نیازهای پژوهشگران، دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) مدل Brisk در آزمایشگاه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر نصب و راه‌اندازی شد.
میکروسکوپ نیروی اتمی یکی از کارآمدترین ابزارهای تصویربرداری سه‌بعدی نانومتری، اندازه‌گیری خواص سطحی و نانولیتوگرافی به‌شمار می‌رود.از شاخص‌ترین ویژگی‌های فنی و قابلیت‌های این دستگاه می‌توان به موارد زیر اشاره کرد:
- قابلیت تصویربرداری در حالت‌های استاندارد تماسی (Contact)، غیرتماسی (Non-Contact) و ضربه‌ای (Tapping)
- تفکیک‌پذیری بسیار بالا در جهت‌های جانبی (۱ نانومتر در محورهای XY) و عمودی (۰.۱ نانومتر در محور Z) با محدوده روبش تا ۷۰ میکرومتر در صفحه.
راه‌اندازی این سیستم در کنار سایر تجهیزات پیشرفته آنالیز سطحی و میکروسکوپی مجموعه، بستر مناسبی را برای انجام پژوهش‌های بنیادین و کاربردی در حوزه‌های نانوفناوری، علم و مهندسی مواد، پلیمر، پوشش‌های سطحی، نیمه‌هادی‌ها، زیست‌فناوری و مهندسی پزشکی فراهم می‌آورد.